SRM 1740鋅鋁合金標準品(美國NIST) 為圓盤形式，直徑約為 50.8 毫米（2 英寸），厚 12.7 毫米（0.5 英寸），用于光發(fā)射和 X 射線熒光光譜分析方法。這種材料是七種鋅基合金系列中的一種，準備涵蓋鋅和鍍鋅行業(yè)感興趣的一系列鋁和鉛成分。該系列中的其他鋅合金是 SRM 1736、1737、1738、1739、1741 和 1742，均為盤形； SRM 2139 與 SRM 1739 材料相同，但以芯片形式提供。

鋁和鉛的認證值在表 1 中給出。用于表征該 SRM 的分析方法是火焰原子吸收光譜法 (FAAS) 和電感耦合等離子體發(fā)射光譜法 (ICP-OES)。所有值均以質量分數(shù)報告 [1]。

認證值和不確定性：

NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的真實值的當前最佳估計，因為所有已知或可疑的偏差來源都已由 NIST 調查或解釋。每個認證值都是實驗室平均值。不確定性在每個認證值中，以 95% 置信水平下的擴展不確定度 U 表示，并根據(jù) ISO 指南 [2] 中描述的方法計算。擴展的不確定性計算為 U = kuc，其中 uc 旨在在一個標準偏差的水平上表示材料不均勻性以及實驗室間和實驗室內不確定性成分的綜合影響。覆蓋因子，Al 的 k = 2.57 和 Pb 的 k = 2.37 由分別對應于 5 個和 7 個自由度的學生 t 分布以及每種分析物的 95% 置信度確定。

使用說明

測試表面是與標記表面相對的一側，其中包括 SRM 1740鋅鋁合金標準品(美國NIST)  編號。 NIST 根據(jù)使用電弧火花發(fā)射光譜法進行的均勻性測試的設計和結果，對裝置的整個厚度進行了認證。但是，警告用戶不要測量厚度小于 2 毫米的圓盤。

使用 X 射線熒光光譜法。每個封裝的磁盤都是通過使用銑床完成測試表面來準備的。用戶必須為每種分析技術確定正確的表面處理程序。

提醒用戶在重修磁盤或進行額外拋光時要小心，因為這些過程可能會污染表面。對于電弧火花發(fā)射光譜法，建議單次測定基于在不同位置的多次“燒傷"的平均值。準備好的測試表面。為化學測試方法準備的樣品應包括使用銑床從整個表面上取出的大碎片。根據(jù)用于賦值的測試方法，建議使用 1.0 g 的最小樣本量來獲得代表本證書中給出的值和不確定性估計的結果。不使用時，應將材料存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。